一、
独立实验
 
3-4 利用复合光栅实现光学微分处理
  3-5 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度 3-6 晶体的电光效应及其应用
  9-1 硅的霍耳系数及电阻率的测量 9-2 用电容-电压法测量半导体中的杂质分布
二、
综合物理实验  
    MgB2超导体的研究